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动态光散射粒度分析仪
工作原理:动态光散射法(DLS),有时称为准弹性光散射法(QELS),是一种成熟的非侵入技术,可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布,使用zei新技术,粒度可小于1nm。 动态光
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Vasco纳米粒度分析仪
VASCOTM 颗粒粒度分析仪是基于增强型动态光散射(DLS)技术的纳米级悬浮和胶体特性的独特仪器。得益于与法国Institute of Petroleum(IFP)合作开发的zl技术
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Amerigo高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪
13099-2 : 2012 – 胶体系统 – zeta电位测试方法 – Part 2 :光学方法 Amerigo原位纳米粒度和zeta电位分析仪基于最新技术的动态光散射(DLS)和激光多普勒
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BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪
●电泳光散射●静态光散射 BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射 DLS
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3D技术动态/静态光散射仪
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BeNano 180 Pro 纳米粒度分析仪
成了背向 173°和经典的 90°动态光散射 DLS 和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测各种浓度样品的粒径及粒径分布 产品介绍BeNano 180 Pro 纳米粒度分析仪是 BeNano
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纳米粒度仪DLS 90
:440×360×210mm仪器重量:~20Kg DLS90是一款基于动态光散射原理研制的纳米颗粒粒度表征仪器。 一、 产品介绍DLS90是一款基于动态光散射原理研制的纳米颗粒粒度表征仪器。分散在
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马尔文Zetasizer Nano ZSE
的高性能还可进行高分子分子量与第二维里系数,A2以及kD,DLS相互作用参数的测量。 Zetasizer Nano ZSE是一台高性能双角度颗粒粒度及分子大小分析仪,采用动态光散射法,结合
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纳米粒径分析仪
其它功能。 Nicomp 380纳米粒径分析仪 工作原理:动态光散射法(DLS),有时称为准弹性光散射法(QELS),是一种成熟的非侵入技术,可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及
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马尔文纳米粒度电位仪Zetasizer Nano ZSP
(1)动态光散射法用于测量粒度及分子大小。DLS可测量作布郎运动颗粒的扩散情况,并采用斯托克斯-爱因斯坦方程将其转化为粒度与粒度分布。包含的非侵入式背散射技术(NIBS)使系统具有最高的灵敏度
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